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SJ 50033/154-2002 半导体分立器件 3DG251型硅超高频低噪声晶体管详细规范

作者:标准资料网 时间:2024-05-10 22:57:15  浏览:9086   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:半导体分立器件 3DG251型硅超高频低噪声晶体管详细规范
英文名称:Semiconductor discrete devices Detail specification for type 3DG251 silicon UHF low-noise transistor
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体分立器件综合
发布部门:中华人民共和国信息产业部
发布日期:2002-10-30
实施日期:2003-03-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
提出单位:中华人民共和国信息产业部
归口单位:信息产业部电子第四研究所
起草单位:中国电子科技集团公司第十三所
起草人:高林颖、王于辉、催波
出版社:中国电子工业出版社
出版日期:2003-03-01
页数:9页
适用范围

本规范规定了3DG251超高频低噪声晶体管的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和采购。

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所属分类: 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体分立器件综合
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【英文标准名称】:PLASTICS.POLYVINYLCHLORIDERESINS.DETERMINATIONOFNUMBEROFIMPURITIESANDFOREIGNPARTICLES.
【原文标准名称】:塑料.聚氯乙烯树脂.杂质和异物数量的测定
【标准号】:NFT51-046-1984
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:1984-10
【实施或试行日期】:1984-09-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:杂质;树脂;聚氯乙烯;计数;塑料
【英文主题词】:polyvinylchloride;resins;plastics;impurities;counting
【摘要】:
【中国标准分类号】:G31
【国际标准分类号】:
【页数】:4P;A4
【正文语种】:其他


基本信息
标准名称:照相镜头照相分辨率测定方法
中标分类: 仪器、仪表 >> 电影、照相、缩微、复印设备 >> 电影、照相、缩微、复印设备综合
替代情况:调整为JB/T 8248.6-1995
发布日期:
实施日期:1989-07-01
首发日期:
作废日期:
出版日期:
页数:4页
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所属分类: 仪器 仪表 电影 照相 缩微 复印设备 电影 照相 缩微 复印设备综合